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梅特勒XS105DU电子天平
梅特勒电子天平XS105DU 生产厂家：瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒
校准方式 ：内部校准
精度2 ：0.1mg
称量范围2 ：120g
精度 ：0.01mg
称量范围 ：41g
技术指标
量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
最大称量值 41/120g
最大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2最大称量1）四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2） 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3） 0.0002%/a
典型称量时间4） 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置
量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
最大称量值 41/120g
最大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2最大称量1）四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2） 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3） 0.0002%/a
典型称量时间4） 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置
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