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梅特勒XP2U电子天平
生产厂家:瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒
校准方式 :内部校准
精度 :0.0001mg
称量范围 :2.1g
极限值
XP2U
最大称量值
2.1 g
可读性
0.0001 mg
重复性(sd) - 加载处
0.00025 mg
- 低加载(加载处)
0.0002 mg (0.2 g)
线性误差
0.001 mg
四角误差(加载处)1)
0.0025 mg (1 g)
灵敏度漂移
1.5 x 10-5
灵敏度温度漂移 2)
0.0001 %/°C
灵敏度稳定性 3)
0.0001 %/a
典型值 4)
典型重复性(sd)
0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
典型微分非线性(sd)
√8x(10-14) · g · R_nt
典型微分四角误差(sd)
8 x (10–7) . R_nt
典型灵敏度偏移(sd)2)
3x(10-6)· R_nt
典型最小称量值*(符合USP)
0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
典型稳定时间
< 10 s
XP2U
最大称量值
2.1 g
可读性
0.0001 mg
重复性(sd) - 加载处
0.00025 mg
- 低加载(加载处)
0.0002 mg (0.2 g)
线性误差
0.001 mg
四角误差(加载处)1)
0.0025 mg (1 g)
灵敏度漂移
1.5 x 10-5
灵敏度温度漂移 2)
0.0001 %/°C
灵敏度稳定性 3)
0.0001 %/a
典型值 4)
典型重复性(sd)
0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
典型微分非线性(sd)
√8x(10-14) · g · R_nt
典型微分四角误差(sd)
8 x (10–7) . R_nt
典型灵敏度偏移(sd)2)
3x(10-6)· R_nt
典型最小称量值*(符合USP)
0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
典型稳定时间
< 10 s
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