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上海物光激光粒度仪WJL-622

上海物光激光粒度仪WJL-622

 
工作原理：

采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。

    颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。

无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。

采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。

主要技术指标：

1、测量范围：0.1～600微米

2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）

3、重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）

4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W

5、外观尺寸：主机1000×330×300mm  、干法进样系统350×330×300mm 、湿法进样系统350×330×300mm

6、重量：50KG